南通檢測儀使用教程

在超聲波傳播中，在不同聲速的兩種介質界面上，臨界角實質是指折射角為90°時的入射角（按斯涅耳定律計算），這只能在被入射介質中的聲速大于入射介質的聲速時發生。超過這一角度時在被入射介質中不會出現某種的特定波形。根據斯涅耳定律sinβ=（V2÷V1）sinα式中：α為入射角β為折射角V2為被入射介質的聲速V1為入射介質的聲速如入射介質是水，被入射介質是鋼，根據斯涅爾定律存在兩個臨界角，sinα=sinβ÷(V2÷V1)=V1÷V2臨界角：α=arcsin[sin90°÷(5900m/s÷1483m/s)]=14.5°第二臨界角：α=arcsin[sin90°÷(3230m/s÷1483m/s)]=27.3°超聲波數字檢測儀設備可以進行多種語言的切換，適應不同地區的使用需求。南通檢測儀使用教程

探傷儀

概述：帶延遲塊超聲波探頭，通過在探頭下方加裝延時塊，以提供不同的超聲波檢測功能和選項。延時塊根據需求設計，有可拆卸延遲塊、表面保護膜和橡膠延時塊等選項。帶延遲塊探頭的主要功能是利用探頭晶片與工件表面之間的時間延遲，這樣能夠提高表面分辨率。帶延遲塊探頭設計用于高精度厚度的測量，超薄工件等應用材料和復合材料的分層檢測。使用耐高溫材料的延時塊還可以制作成用于高溫材料檢測的高溫超聲波探頭。應用：帶延遲塊探頭常用于超薄工件檢測和高精度測厚，因此，常采用10MHz/15MHz/20MHz等高頻率，超高頻超聲波探頭需具備窄脈沖寬頻的特性，在薄板金屬構件或焊接接頭超聲檢測中具有較高的精度和實用性。浙江工業無損探傷儀HUT-3X0系列手持數字超聲波探傷儀探傷時缺陷長度的測定方法。

CSK-IA試塊是我國承壓設備無損檢測標準JB/T4730—2005中規定的標準試塊，是在IIW試塊基礎上改進后得到的，其結構及主要尺寸如圖4—30所示。CSK-IA試塊有三點改進:1)將直孔φ50mm改進φ50mm、φ44mm、φ40mm臺階孔，以便于測定橫波斜探頭的分辨力。2)將R100改為R100、R50階梯圓弧，以便于調整橫波掃描速度和檢測范圍。3)將試塊上標定的折射角改為K值(K=tanβs)，從而可直接測出橫波斜探頭的K值。CSK-IA試塊的其他功能同IIW試塊,材質一般同被檢工件。(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA標準試塊CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA試塊是JB/T4730—2005標準中規定采用的焊縫超聲波檢測用的橫孔標準試塊。CSK-IA結我國的CSK系列標準試塊比較特殊，要求試塊材質與工件相同或相近。CSK-IA,CSK一IA,CSK-ⅣA試塊主要用于測定橫波距離一波幅曲線、斜探頭的K值和調整橫波掃描速度和靈敏度等。其中CSK-IA和CSK-A適用于壁厚范圍為8~120mm的焊縫，CSK-ⅣA系列試塊用于壁厚范圍120～400mm的焊縫。

方法一：橫波探傷法對焊縫進行超聲波檢測時，需要在焊縫兩側進行探傷，找到底端反射波B，移動超聲波探頭找到頂端反射波T，出現在B和T波之間的異常回波（F）即為缺陷波，由于超聲波檢測時采用聲波的多次反射法進行探傷，可選擇具有半跨距顯示功能的超聲波探傷儀，通過輸入檢測板厚度值，從而在超聲波探傷儀波形顯示區域可更直觀的顯示出檢測缺陷的具體信息。方法二：超聲波穿透法如果焊接后表面平整，也可采用縱波法進行探傷，如果焊縫中存在一定尺寸的氣孔或者夾雜缺陷，收到的超聲波波幅遠遠小于沒有缺陷時，當缺陷達到一定尺寸后，接收探頭無法接收到超聲波。超聲波數字檢測儀可以進行多種數據處理方式的選擇，提高數據分析能力。

試塊的分類超聲檢測用試塊通常分為標準試塊、對比試塊和模擬試塊三大類。(1)標準試塊標準試塊通常是由機構制定的試塊，其特性與制作要求有專門的標準規定。標準試塊通常具有規定的材質、形狀、尺寸及表面狀態。如IIW試塊,CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA，CSK-ⅡIA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA。(2）對比試塊對比試塊是以特定方法檢測特定工件時采用的試塊，含有意義明確的人工反射體（平底孔、槽等)。它與被檢工件材料聲學特性相似，其外形尺寸應能被檢工件的特征，試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。對比試塊主要用于檢測校準以及評估缺陷的當量尺寸，以及將所檢出的不連續信號與試塊中已知反射體產生的信號相比較。(3）模擬試塊模擬試塊是含模擬缺陷的試塊，可以是模擬工件中實際缺陷而制作的樣件，或者是在以往檢測中所發現含自然缺陷的樣件。模擬試塊主要用于檢測方法的研究、無損檢測人員資格考核和評定、評價和驗證儀器探頭系統的檢測能力和檢測工藝等。手持數字超聲波探傷儀校準方法、校準視頻!浙江數字超聲波探傷儀用途

HUT-3X0系列手持數字超聲波探傷儀壓力容器行業超聲波檢測解決方案。南通檢測儀使用教程

渾身是寶的CSK-IA超聲波試塊CSK-IA試塊是超聲波檢測較常用的試塊之一，標準中對于試塊的定義分為標準試塊、對比試塊，其中CSK-IA試塊穩居標準試塊行列已有15年之久。針對CSK-IA試塊的各部分功能進行描述（1）采用R=50mm，R=100mm弧，可用于測定聲速、探頭的入射點（前沿、探頭延遲），如果只采用單弧（50mm或100mm）可測定探頭的入射點，聲速可以手動輸入。建議可采用單弧測試，測定聲速為CSK-IA試塊的聲速?。?）可采用三個不同深度的臺階底面（85mm、91mm、100mm）用于測定直探頭的分辨力，測試結果可做參考NB/T47013要求測試方法參考JB/T9214。(3)可采用40mm、44mm、50mm三個階梯孔測定斜探頭的分辨力，此處測試結果可做參考，NB/T47013要求測試方法參考JB/T9214。另外可采用50mm圓孔測試斜探頭K值，K2、K2.5、K3探頭布置在上表面，K1、K1.5探頭布置在下表面。采用50mm圓孔還可測試直探頭的盲區，探頭位置分別布置在試塊上表面及側面，此處測試結果也作為參考，具體方法應參照JB/T9214。（4）φ1.5mm橫孔可用于測試斜探頭K值。（5）將CSK-IA試塊平置，可用25mm大平底、測試水平線性、垂直線性，垂直線性測試結果可作參考，具體方法參照JB/T9214。另外可用大平底校準直探頭！南通檢測儀使用教程

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