廣東手提平板探測器

DR是射線數字成像檢測的英文簡稱，工業領域也叫X射線探傷，現大部分采用數字平板。DR可以對缺陷進行定性分析。X射線對體積型缺陷比較敏感。在檢測進行時，DR檢測系統對工件表面要求不高，它是X射線穿透待檢物后在平板探測器上接收經過檢測物吸收后的光電子，再由計算機和圖像軟件處理得到明暗區分的圖片，從而觀測缺陷的種類和估算其大小，圖像易于保存，所以可以用于定性和存檔。X射線易于檢測物體內部的氣泡、縮孔、夾雜但難于確定深度方向的尺寸。AED是自動感應曝光技術，可以讓平板探測器自動探測X射線，自動進入曝光窗口，把圖像輸出至計算機。廣東手提平板探測器

平板探測器（FPD）的分辨率指圖像空間范圍內的解像力或解像度，以能夠分辨清楚圖像中黑白相間線條的能力來表示。黑白相間的線條稱為線對，一對黑白相間的線條稱為一個線對。分辨率的單位是線對/毫米（LP/mm）。在單位寬度范圍內能夠分辨清楚線對數越多，表示圖像空間分辨率越高。空間分辨率的提高不是無限的，與探測器對X射線光子的檢測靈敏度、動態范圍、信噪比等有密切關系。實際成像中，影像分辨率的因素有很多：如X射線焦點、曝光時間、探測器感官靈敏度、計算機圖像處理、顯示器性能等。青島DR成像平板探測器X射線具有高能量和短波長的特點，因此可以穿透大多數物質，包括金屬、玻璃、木板等。

平板探測器（簡稱FPD）成像時會受到暗場飄移、響應不一致和壞點等因素影響，因此必須對平板探測器進行一下幾種校正。1、暗場校正（OFFSETcorrection），就是在開啟射線源進行檢測工作時，為了正確反映出透照物體內部結構與圖像灰度值之間的對應關系，去除疊加在實際輸出響應上的暗場圖像值。2、雖然在線性曝光劑量范圍內，平板探測器的每個探測單元對X射線響應是線性的，但不同探測單元的X射線響應系數并不完全一致，即響應不一致性。它帶來的后果是相同的入射射線強度，但輸出不同。因此必須對平板探測器做增益校正（GAINcorrection）。3、平板探測器（FPD）使用過程中，元器件老化、輻射額碰撞損傷都會產生新的壞點，所以定期更新壞點位置圖（壞像素校正））是十分重要的。

平板探測器（簡稱FPD）是一種半導體檢測器，是數字化攝影的主要部件。目前平板探測器可分間接式的CsI（a-Si）（碘化銫，非晶硅）平板探測器和直接式的a—Se（非晶硒）平板探測器，其作用是將X線的光量子信號轉換成數字信號。機房環境對平板探測器的影響很大，適當的溫濕度是維持探測器正常運行的必要條件。首先要保持設備環境溫度的恒定，不要將探測器置于30℃以上的環境中；其次要經常觀察探測器內部溫度的變化，確保其穩定性，通常床上探測器為（40±3）℃，壁裝支架探測器為（38±3）℃。平板探測器如果置于溫度過高的環境，可致信息讀出錯誤，并可能損壞探測器。環境濕度高會降低元器件的絕緣性能；灰塵多會影響成像效果，并可能遮蓋探測器冷卻設備的入口，導致探測器散熱不良。平板探測器是精密電子設備，在使用過程中會出現探測器矩陣的某一行或某一列的像素失效，在圖像上表現為點狀或細線狀偽影，其原因是在電場作用下導體中的電子發生定向運動出現了空洞，喪失了原有的成像功能。平板探測器的定時校準可以將失效的像素屏蔽。像素尺寸是指相鄰像素的中心距離。

使用Xray清點物料的優點：1、準確性。X射線計數器可以比其他的元件計數方法更準確，因為它們可以“看到“元件內部，并檢測到任何使用其他方法可能看不到的隱藏元件。2、速度：X射線計數器可以比人更快地計數部件，這可以節省時間并提高制造過程的效率。3、非破壞性。X射線計數器不會損壞被計數的部件，因此它們可用于計數對處理敏感的部件或需要保存以便進一步測試的部件。4、多功能性。X射線計數器可用于計數各種部件，包括由不同材料制成的部件以及具有不同形狀和尺寸的部件。5、易于使用。X射線計數器通常易于使用，不需要專門培訓。它們可以由一個人操作，這可以減少制造過程中計算部件所需的人員數量。使用硫氧化釓做涂層的探測器成像速度快，性能穩定，成本低。但是轉換效率不如碘化銫涂層高。浙江靜態平板探測器

DR平板探測器可分為兩種：非晶硒平板探測器和非晶硅平板探測器。廣東手提平板探測器

高壓發生器的主要作用是供給X射線管陰、陽兩極直流高壓和燈絲加熱電壓。其主要由電源電路、高壓電路、燈絲電路、控制電路等組成。電源電路主要起到將電源與高壓發生器其他電路隔離、給其他電路供電的作用。高壓電路主要將交流低電壓（220V/380V）升壓至直流高電壓（150kV），從而給X射線管供電。燈絲電路主要將低電壓（220V/380V）降壓至電壓（12V），從而給燈絲供電，加熱燈絲產生自由電子?？刂齐娐分饕糜诳刂聘邏喊l生器的輸出電壓、輸出燈絲電流和加載時間，同時與其他X射線設備影像鏈部件通訊，保證曝光的準確性。廣東手提平板探測器

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